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A Comparative Study of Gallium-, Xenon-, and Helium-Focused Ion Beams for the Milling of GaN 镓、氙和氦聚焦离子束铣削GaN的比较研究
相关领域
聚焦离子束
材料科学
高分辨率透射电子显微镜
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期刊:Nanomaterials 作者:Shuai Jiang; Volkan Ortalan 出版日期:2023-11-03 |
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