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Automatic Prediction of Metal–Oxide–Semiconductor Field‐Effect Transistor Threshold Voltage Using Machine Learning Algorithm 基于机器学习算法的金属氧化物半导体场效应晶体管阈值电压自动预测
相关领域
晶体管
均方误差
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期刊:Advanced Intelligent Systems 作者:Seoyeon Choi; Dong Geun Park; Min Jung Kim; Seain Bang; Jungchun Kim; et al 出版日期:2022-12-20 |
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