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 A super high aspect ratio atomic force microscopy probe for accurate topography and surface tension measurement 用于精确形貌和表面张力测量的超高纵横比原子力显微镜探针
相关领域
聚焦离子束
材料科学
表面张力
纵横比（航空）
制作
棱锥（几何）
光学
原子力显微镜
蚀刻（微加工）
纳米结构
纳米技术
光电子学
离子
化学
物理
病理
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医学
量子力学
替代医学
图层（电子）
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期刊：Sensors and Actuators A Physical 作者：Xiaolei Ding; Binyu Kuang; Chun Xiong; Renwei Mao; Yang Xu; et al 出版日期：2022-09-20 |
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