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 Correlations Between In-Line X-Ray Diffraction Data and In-Field Critical Current of Long, 4-µm-Thick Film REBCO Tapes Made by Advanced MOCVD 相关领域
金属有机气相外延
材料科学
衍射
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电流（流体）
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期刊：IEEE Transactions on Applied Superconductivity 作者：Chirag Goel; Mahesh Paidpilli; Siwei Chen; Yi Li; Mahandar Oad; et al 出版日期：2024-11-20 |
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