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BTI Reliability Enhancement of Ge-Doped $\text{In}_{2} \mathrm{O}_{3}$ TFTs via $\text{Al}_{2} \mathrm{O}_{3}$ Passivation |
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期刊:2026 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者:Xingtian Wang; Jiahui Duan; YuShan Lee; Yiyan Yu; Yixin Qin; et al 出版日期:2026-03-22 |
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(2025-6-4)