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  Effect of Trap Behavior on the Reliability Instability of Metamorphic Buffer in InAlAs/InGaAs MHEMT on GaAs GaAs上InAlAs/InGaAs MHEMT中陷阱行为对变质缓冲可靠性不稳定性的影响
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期刊：Materials 作者：Ki‐Yong Shin; Ju‐Won Shin; Walid Amir; Surajit Chakraborty; Jae‐Phil Shim; et al 出版日期：2023-09-09 |
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