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![]() 晶格加热对硅栅全介质窗口间隔多沟道MOSFET开关性能的影响
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期刊:International Journal of Numerical Modelling Electronic Networks Devices and Fields 作者:Ushodaya Ayyala Soma Yajula; Guru Prasad Mishra; Girija Shankar Sahoo 出版日期:2023-11-08 |
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