Unravelling the Impact of Random Dopant Fluctuations on Si-Based 3nm NSFET: A NEGF Analysis

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标题	Unravelling the Impact of Random Dopant Fluctuations on Si-Based 3nm NSFET: A NEGF Analysis
网址	http://xplorestaging.ieee.org/ielx8/10628446/10628545/106288...
DOI	10.1109/nano61778.2024.10628880 doi
其它	期刊：2024 IEEE 24th International Conference on Nanotechnology (NANO) 作者：Ankit Dixit; Ali Rezaei; Nikolas Xeni; Naveen Kumar; Tapas Dutta; et al 出版日期：2024-08-23
求助人	hyaq99 在 2026-02-23 15:25:25 发布自河南，悬赏 10 积分
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