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Thermal Performance of Cu Electroplated GaN/AlGaN High-Electron-Mobility Transistors with Various-Thickness Si Substrates 不同厚度Si衬底镀铜GaN/AlGaN高电子迁移率晶体管的热性能
相关领域
材料科学
电镀
高电子迁移率晶体管
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期刊:Electronics 作者:Ray‐Hua Horng; Hsiao-Yun Yeh; Niall Tumilty 出版日期:2023-04-27 |
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