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[高分] 书籍(章节) Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications
薄膜材料的椭偏光谱介绍:仪器,数据分析和应用
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ISBN: 978-3-527-83395-5 https://www.wiley.com/en-cn/Introduction+to+Spectroscopic+Ellipsometry+of+Thin+Film+Materials%3A+Instrumentation%2C+Data+Analysis%2C+and+Applications-p-9783527833955 |
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yogurt_tju 求助人 Lv1 发起了本次求助