| 标题 |
Wide-range nano-displacement measurement via dual-wavelength interferometry with an ultra-broadband OAM converter |
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| DOI |
10.1364/oe.577053
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期刊:Optics Express 作者:Kaili Ren; Haiyan Zhang; Aochi Jia; Menghao Li; Jianping Hu; et al 出版日期:2025-10-16 |
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(2025-6-4)