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High Channel Mobility and Stable E-Mode Operation in AlSiO/AlN/m-Plane P-Type GaN MOSFETs with Little Temperature Dependence of the Threshold Voltage |
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期刊:2024 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者:Kenji Ito; Tetsuo Narita; Masakazu Kanechika; Hiroko Iguchi; Shiro Iwasaki; et al 出版日期:2025-02-19 |
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