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 Mechanisms of Electron-Beam-Induced Damage in Perovskite Thin Films Revealed by Cathodoluminescence Spectroscopy 钙钛矿薄膜电子束损伤机理的阴极发光光谱研究
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期刊：Journal of Physical Chemistry C 作者：Chuanxiao Xiao; Zhen Li; Harvey Guthrey; John Moseley; Ye Yang; et al 出版日期：2015-11-18 |
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