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 Bulk micro-defect detection with low-angle illumination 低角度照明的体微缺陷检测
相关领域
薄脆饼
材料科学
散射
光学
光散射
光电子学
半导体
物理
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期刊：Review of Scientific Instruments 作者：Tamás Szarvas; Gábor Molnár; G. Nádudvari; Sz. Tóth; O. Almásy; et al 出版日期：2021-04-01 |
| 求助人 |
feifei7525
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