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标题
Impact of Field-Plate Insulating Layer on Junction Breakdown Instability in OFT-Pw.MOSFET Devices
场板绝缘层对OFT-Pw. MOS器件结击穿不稳定性的影响
相关领域
材料科学 不稳定性 击穿电压 功率MOSFET MOSFET 化学气相沉积 图层（电子） 沟槽 压力（语言学） 光电子学 氧化物 复合材料 凝聚态物理 电气工程 电压 晶体管 机械 冶金 物理 工程类 哲学 语言学
网址
https://doi.org/10.1109/ted.2022.3176256
DOI
10.1109/ted.2022.3176256 doi
其它 期刊：IEEE Transactions on Electron Devices
作者：Giacomo Barletta; Paolo Magnone; A. Magrì
出版日期：2022-05-25
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Rex 在 2025-07-22 13:28:16 发布自中国台湾，悬赏 10 积分
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