Measuring Thickness Changes in Thin Films Due to Chemical Reaction by Monitoring the Surface Roughness with In Situ Atomic Force M

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标题	Measuring Thickness Changes in Thin Films Due to Chemical Reaction by Monitoring the Surface Roughness with In Situ Atomic Force M
网址	https://doi.org/10.1017/s1431927602010309
DOI	10.1017/s1431927602010309 doi
其它	Dahn 课题组书目全库收录计划（主人 11-05 字母 A）
求助人	洁净雨在 2026-11-05 13:13:24 发布自中国香港，悬赏 10 积分
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