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 In Situ Attenuated Total Reflectance Infrared Spectroelectrochemistry (ATR-IR-SEC) for the Characterization of Molecular Redox Processes on Surface-Proximal Doped Silicon ATR Crystal Working Electrodes 原位衰减全反射红外光谱电化学（ATR-IR-SEC）表征近端掺杂硅ATR晶体工作电极分子氧化还原过程
相关领域
衰减全反射
红外光谱学
材料科学
半导体
兴奋剂
Crystal（编程语言）
硅
漫反射
催化作用
分析化学（期刊）
化学
光电子学
光学
有机化学
物理
程序设计语言
计算机科学
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期刊：Journal of Physical Chemistry C 作者：Samuel R. Bottum; Taylor S. Teitsworth; Qi Han; Andre D. Orr; Jin‐Sung Park; et al 出版日期：2023-03-15 |
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