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Trap states in enhancement-mode double heterostructures AlGaN/GaN high electron mobility transistors with different GaN channel layer thicknesses 不同GaN沟道层厚度的增强型双异质结构AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管中的陷阱态
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Yunlong He; Peixian Li; Chong Wang; Xiangdong Li; Shenglei Zhao; et al 出版日期:2015-08-10 |
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