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Combined ultraviolet- and electron-beam lithography with Micro-Resist-Technology GmbH ma-N1400 resist 相关领域
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B Nanotechnology and Microelectronics Materials Processing Measurement and Phenomena 作者:David J. Thoen; Vignesh Murugesan; Alejandro Pascual Laguna; K. Karatsu; Akira Endo; et al 出版日期:2022-09-01 |
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