| 标题 |
Glancing-incidence focussed ion beam milling: A coherent X-ray diffraction study of 3D nano-scale lattice strains and crystal defects |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Acta Materialia 作者:Felix Hofmann; Ross J. Harder; Wenjun Liu; Yuzi Liu; Ian K. Robinson; Yevhen Zayachuk 出版日期:2018-05-11 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)