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First-principles studies of the intrinsic effect of nitrogen atoms on reduction in gate leakage current through Hf-based high-k dielectrics |
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期刊:Applied Physics Letters 作者:N. Umezawa; K. Shiraishi; T. Ohno; H. Watanabe; T. Chikyow; et al 出版日期:2005-03-31 |
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