Reliability Mechanisms of LTPS-TFT With $\hbox{HfO}_{2}$ Gate Dielectric: PBTI, NBTI, and Hot-Carrier Stress

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标题	Reliability Mechanisms of LTPS-TFT With $\hbox{HfO}_{2}$ Gate Dielectric: PBTI, NBTI, and Hot-Carrier Stress
网址	http://dx.doi.org/10.1109/ted.2008.919710
DOI	10.1109/ted.2008.919710 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Ming-Wen Ma; Chih-Yang Chen; Woei-Cherng Wu; Chun-Jung Su; Kuo-Hsing Kao; et al 出版日期：2008-05-01
求助人	alex 在 2026-07-27 00:23:15 发布自上海，悬赏 10 积分
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