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 Study on Dislocation Annihilation Mechanism of the High-Quality GaN Grown on Sputtered AlN/PSS and Its Application in Green Light-Emitting Diodes 溅射AlN/PSS上高质量GaN的位错湮灭机理及其在绿光二极管中的应用研究
相关领域
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二极管
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Ruoshi Peng; Xijun Meng; Shengrui Xu; Jincheng Zhang; Peixian Li; et al 出版日期：2019-05-01 |
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