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Higher-eigenmode piezoresponse force microscopy: a path towards increased sensitivity and the elimination of electrostatic artifacts
高本征模压电响应力显微镜:提高灵敏度和消除静电伪影的途径
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压电响应力显微镜
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期刊:Nano Futures 作者:Gordon A. MacDonald; Frank W. DelRio; Jason P. Killgore 出版日期:2018-03-23 |
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