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Packaging reliability estimation of high-power device modules by utilizing silver sintering technology |
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Chang‐Chun Lee; Kuo-Shu Kuo; Chi-Wei Wang; Jing‐Yao Chang; Wei-Kuo Han; et al 出版日期:2020-10-31 |
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(2025-6-4)