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  Upwind electromigration of sub-10-nm metallic nano-interconnects 相关领域
电迁移
材料科学
电子
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凝聚态物理
可靠性（半导体）
缩放比例
流量（数学）
钨
纳米尺度
机械
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扩散
金属
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表面扩散
密度泛函理论
过渡金属
纳米技术
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期刊：Nature Communications 作者：Youran Hong; Tianqi Deng; Xiyao Li; Zhongkang Han; Jian Wang; et al 出版日期：2026-03-06 |
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