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 P‐229: Late‐News Poster: Improved PBTS Reliability of Dual‐Gate a‐IGZO TFT by Bottom Interface Optimization 相关领域
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期刊：SID Symposium Digest of Technical Papers 作者：Hanpeng Deng; Yuanpeng Chen; Xingyu Zhou; Wei Wang; Yanqing Guan; et al 出版日期：2025-08-15 |
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