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Machine learning for rapid inference of critical dimensions in optical metrology of nanopatterned surfaces 纳米图案化表面光学计量中关键尺寸快速推断的机器学习
相关领域
计量学
平版印刷术
计算机科学
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物理
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哲学
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期刊:CIRP journal of manufacturing science and technology 作者:Ramin Sabbagh; Alec Stothert; Dragan Djurdjanović 出版日期:2023-10-20 |
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