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 Detection and Mitigation of nBTI Aging of a High Precision Current Comparator in 16 nm FinFET Technology 16 nm FinFET技术中高精度电流比较器nBTI老化的检测与缓解
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期刊：IEEE Transactions on Circuits and Systems I Regular Papers 作者：Hyuk Sun; Paul Wilkin; Steve Rose; Gil Engel 出版日期：2025-01-10 |
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