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Low temperature silicon dioxide by thermal atomic layer deposition: Investigation of material properties 相关领域
原子层沉积
椭圆偏振法
分析化学(期刊)
材料科学
硅
电介质
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化学
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复合材料
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Daniel Hiller; Robert Zierold; Julien Bachmann; Marin Alexe; Yu Lin Yang; et al 出版日期:2010-03-15 |
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