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Caracterização estrutural por difração de raios X de alta resolução de SiAlONs sinterizados com diferentes aditivos |
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| DOI |
10.1590/s0366-69132005000400002
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期刊:Cerâmica 作者:C. Santos; P. A. Suzuki; K. Strecker; S. Kycia; C. R. M. Silva 出版日期:2005-12-01 |
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(2025-6-4)