| 标题 |
Understanding SRAM High-Temperature-Operating-Life NBTI: Statistics and Permanent vs Recoverable Damage |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual 作者:A. Haggag; G. Anderson; S. Parihar; D. Burnett; G. Abeln; et al 出版日期:2007-06-20 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)