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SVD-based layout representation for lithographic hotspot detection |
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10.1117/12.3093251
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| 其它 |
期刊:Ninth International Workshop on Advanced Patterning Solutions (IWAPS 2025) 作者:Yibo Huang; Silin Chen; Hao Shu; Jiahao Wang; Wenbo Xu; et al 出版日期:2025-12-04 |
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(2025-6-4)