| 标题 |
Exploring responsivity, sensitivity and resolution in amplitude modulated AFM: a study of global behavior and parameter influences 相关领域
振幅
灵敏度(控制系统)
背景(考古学)
度量(数据仓库)
相(物质)
工作(物理)
数学分析
物理
分辨率(逻辑)
过程(计算)
激发
统计物理学
基础(线性代数)
控制理论(社会学)
数学
继续
数值积分
光学
测距
调幅
期限(时间)
频率响应
声学
微分方程
简单(哲学)
计量系统
计算物理学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Microsystems & Nanoengineering 作者:Jonathan Ehrmann; Thomas Sattel; Oliver Radler 出版日期:2026-02-14 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)