| 标题 |
In-Situ Ellipsometric Monitoring and Modelling of the Growth and Synthesis of Thin Films |
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| DOI |
10.1364/oic.1988.tuc1
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| 其它 |
期刊:Optical Interference Coatings 作者:R.P. Netterfield; P.J. Martin; K.-H. Müller; W.G. Sainty; C.G. Pacey; et al 出版日期:1988-01-01 |
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(2025-6-4)