| 标题 |
Sensitive Characterization of the Graphene Transferred onto Varied Si Wafer Surfaces via Terahertz Emission Spectroscopy and Microscopy (TES/LTEM) 相关领域
石墨烯
材料科学
氧化石墨烯纸
石墨烯纳米带
单层
硅
化学气相沉积
纳米技术
薄脆饼
光电子学
太赫兹辐射
氧化物
半导体
冶金
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Materials 作者:Dongxun Yang; Jesse Henri Laarman; Masayoshi Tonouchi 出版日期:2024-03-26 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|