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[高分]
Analysis of the influence of the traps on the AlGaN/GaN MOSHEMT characteristics for low leakage power devices 低漏功率器件中陷阱对AlGaN/GaN MOSHEMT特性的影响分析
相关领域
材料科学
光电子学
泄漏(经济)
氮化镓
工程物理
纳米技术
物理
宏观经济学
经济
图层(电子)
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期刊:International Journal of Nanotechnology 作者:Nazrul Islam; Mohd Syamsul; Alhan Farhanah Abd Rahim; Muhammad Firdaus Akbar; Nor Azlin Ghazali; et al 出版日期:2024-01-01 |
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