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 Ion-Induced Bending with Applications for High-Resolution Electron Imaging of Nanometer-Sized Samples 离子诱导弯曲及其在纳米样品高分辨率电子成像中的应用
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期刊：ACS Applied Nano Materials 作者：Shuo Zhang; Vivek Garg; Gediminas Gervinskas; R.K.W. Marceau; Emily Chen; et al 出版日期：2021-11-02 |
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