| 标题 |
Ion-Induced Bending with Applications for High-Resolution Electron Imaging of Nanometer-Sized Samples 离子诱导弯曲及其在纳米样品高分辨率电子成像中的应用
相关领域
微尺度化学
聚焦离子束
材料科学
离子束
原子探针
纳米尺度
透射电子显微镜
离子
纳米技术
弯曲
悬臂梁
纳米
复合材料
化学
数学教育
有机化学
数学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:ACS Applied Nano Materials 作者:Shuo Zhang; Vivek Garg; Gediminas Gervinskas; R.K.W. Marceau; Emily Chen; et al 出版日期:2021-11-02 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|