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![]() 用X射线光电子能谱和近边缘X射线吸收精细结构谱对Si(100)上嘧啶的理论鉴定
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期刊:Molecular Physics 作者:Hao-Qing Li; Jing Ming; Zhi-Ang Jiang; Haibo Li; Yong Ma; et al 出版日期:2023-08-30 |
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