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[高分] Measuring Technological Distance for Patent Mapping: A Comparison of Jaccard, Cosine, and Novel Hybrid Indicators
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Authors: Zhang, Y., Chen, Y., & Wang, X. Journal: Scientometrics （Springer 出版，SCI 收录） 2022年的文献，是关于比较和提出用于专利地图绘制（Patent Mapping）的技术距离测量方法，可能尝试了IPC共类分析，即基于专利分类号的共现关系来测量技术距离或构建技术网络的一种方法。 |
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(2025-6-4)
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