| 标题 |
  Effects of hydrogen impurities on performances and electrical reliabilities of indium-gallium-zinc oxide thin film transistors 氢杂质对铟镓锌氧化物薄膜晶体管性能和电可靠性的影响
相关领域
材料科学
薄膜晶体管
氢
杂质
X射线光电子能谱
铟
阈值电压
镓
分析化学（期刊）
氧化物
光电子学
晶体管
纳米技术
电压
化学
核磁共振
电气工程
物理
有机化学
工程类
图层（电子）
色谱法
冶金
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Acta Physica Sinica 作者： Shao Yan; Ding Shi-Jin; 出版日期：2020-12-15 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
哆啦的空间站
浮游
唐泽雪穗
Li
yangjiafengzi
Criminology34
馆长
遇上就这样吧
，。
GingerF
YifanWang
冬雪丶消融
从容芮
是多少
师兄的结果复现不出
wop111
GPTea
xiaolei001
pearson
斯寜
小杨
骰子
Aphcity
mmyhn
不配.
xiaoyinni
rainb
纸飞机
皖公网安备34019202002308
