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Flat band voltage shift and oxide properties after rapid thermal annealing |
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:B.J. O'Sullivan; P.K. Hurley; F.N. Cubaynes; P.A. Stolk; F.P. Widdershoven 出版日期:2001-07-01 |
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(2025-6-4)