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标题
Flat band voltage shift and oxide properties after rapid thermal annealing
网址
DOI
10.1016/s0026-2714(01)00073-7 doi
其它 期刊:Microelectronics Reliability
作者:B.J. O'Sullivan; P.K. Hurley; F.N. Cubaynes; P.A. Stolk; F.P. Widdershoven
出版日期:2001-07-01
求助人
heimajiaerji 在 2026-08-26 20:25:52 发布自湖北,悬赏 40 积分
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