A Study of FinFET Device Optimization and PPA Analysis at 5 nm Node

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标题	A Study of FinFET Device Optimization and PPA Analysis at 5 nm Node
网址	http://dx.doi.org/10.1109/cstic49141.2020.9282502
DOI	10.1109/cstic49141.2020.9282502 doi
其它	期刊：2020 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC) 作者：Xin Luo; Yu Ding; Enming Shang; Jie Sun; Shaojian Hu; et al 出版日期：2020-06-26
求助人	新野在 2026-08-22 00:00:43 发布自上海，悬赏 10 积分
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