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Combined experimental-FEM investigation of electrical ruggedness in double-sided cooled power modules |
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Ciro Scognamillo; Antonio Pio Catalano; Philippe Lasserre; Cyrille Duchesne; Vincenzo d'Alessandro; et al 出版日期:2020-11-01 |
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(2025-6-4)