Degradation Behavior and Analysis of GaN HEMTs Under High Power Microwave Pulse

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标题	[高分] Degradation Behavior and Analysis of GaN HEMTs Under High Power Microwave Pulse
网址	https://doi.org/10.1109/IPFA55383.2022.9915753
DOI	10.1109/IPFA55383.2022.9915753 doi
其它	期刊：2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) 作者：Shuo Zhang; Lei Liu; Yi Qiang Chen; Zhijian Li; Zhaohui Wu; Bin Li 出版日期：2022
求助人	畔畔在 2026-04-22 16:46:50 发布自北京，悬赏 50 积分
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