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![]() 用于沉积氢化非晶硅薄膜的SiH4和Si2H6等离子体中SiH2自由基密度的测量和计算
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Tatsuru Shirafuji; Kunihide Tachibana; Yasuji Matsui 出版日期:1995-08-01 |
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