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Effect of p-InGaN Cap Layer on Low-Resistance Contact to p-GaN: Carrier Transport Mechanism and Barrier Height Characteristics p-InGaN盖层对与p-GaN低电阻接触的影响:载流子输运机制和势垒高度特性
相关领域
阻挡层
接触电阻
材料科学
光电子学
机制(生物学)
图层(电子)
纳米技术
物理
量子力学
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期刊:Crystals 作者:Mohit Kumar; Laurent Xu; Timothée Labau; J. Biscarrat; S. Torrengo; et al 出版日期:2025-01-08 |
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