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Endurance enhancement of ZnO RRAM through interfacial oxidation control and conduction mechanism analysis 界面氧化控制及导电机理分析提高ZnO RRAM耐久性
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期刊:Applied Surface Science 作者:Woon-San Ko; Myeongho Song; He Hong; Do-Yeon Lee; Dong-Hyeuk Choi; et al 出版日期:2025-10-09 |
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