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A comparison of vertical scanning interferometry (VSI) and atomic force microscopy (AFM) for characterizing membrane surface topography 垂直扫描干涉法(VSI)与原子力显微镜(AFM)表征膜表面形貌的比较
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期刊:Journal of Membrane Science 作者:İsmail Koyuncu; Jonathan A. Brant; Andreas Lüttge; Mark R. Wiesner 出版日期:2006-05-17 |
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