| 标题 |
[高分] 书籍 Transmission/Reflection and Short-Circuit Line Methods for Measuring Permittivity and Permeability
相关领域
介电常数
输电线路
反射（计算机编程）
材料科学
电力传输
磁导率
直线（几何图形）
传输（电信）
光电子学
电子工程
电气工程
光学
计算机科学
物理
工程类
电介质
化学
数学
程序设计语言
生物化学
膜
几何学
|
| 网址 | |
| DOI |
暂未提供，该求助的时间将会延长，查看原因？
|
| 其它 |
期刊：NASA STI/Recon Technical Report N 作者：James Baker‐Jarvis; Michael D. Janezic; John H. Grosvenor; Richard G. Geyer 出版日期：1992-05-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
Kao
Copyright
无极微光
cdercder
潇洒的惋清
GingerF
务实狗
Zephyrite
魔法屎尿屁
学术文献互助
arniu2008
OK
不潮薯饼
核桃
Haiverxin
囧囧
蓝天
Gooselink
Twonej
雪满头
皖公网安备34019202002308
